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質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時間質(zhì)譜儀

簡要描述:PTR-TOF 6000 X2 質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時間質(zhì)譜儀具有測量速度快,靈敏度高,量測量不需要定標(biāo),無需復(fù)雜的樣品前處理等優(yōu)點,已經(jīng)廣泛應(yīng)用在環(huán)境污染監(jiān)測、醫(yī)學(xué)診斷、食品成分和質(zhì)量檢驗等領(lǐng)域。

  • 產(chǎn)品型號:PTR-TOF 6000 X2
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2023-11-22
  • 訪  問  量:5614
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌最小檢測分壓0.0001ppb
檢測限0.0001ppb質(zhì)量數(shù)范圍1 ~ 10000, 可調(diào)amu
價格區(qū)間面議產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,石油,能源,電子

PTR-TOF 6000 X2 質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時間質(zhì)譜儀介紹:

IoniconAnalytikGmbH的PTR-TOFMS儀器使用一種軟離子化技術(shù),利用H2O比絕大多數(shù)VOCs的質(zhì)子親和力小的特性,H3O+作母離子與作為質(zhì)子接受體的VOCs發(fā)生質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng),常見的空氣成分如N2,O2,Ar等,其質(zhì)子親和力都小于水,不能和H3O+發(fā)生質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng),因此不會干擾痕量化合物的檢測和定量,該技術(shù)對痕量化合物檢測的低檢測限達(dá)到幾個pptv。SRI離子源可以在H3O+、O2+、NO+和NH4+之間切換反應(yīng)離子。PTRTOFMS具有測量速度快,靈敏度高,量測量不需要定標(biāo),無需復(fù)雜的樣品前處理等優(yōu)點,已經(jīng)廣泛應(yīng)用在環(huán)境污染監(jiān)測、醫(yī)學(xué)診斷、食品成分和質(zhì)量檢驗等領(lǐng)域。

PTR-TOF 6000 X2 質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時間質(zhì)譜儀結(jié)合了新一代的ION-BOOSTER離子漏斗和六極桿離子導(dǎo)流ION-GUIDE,采用Ionicon的high-resolutionioniTOF高分辨率長飛行時間質(zhì)譜,以及TUR-E/N的質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)離子源,給您好的PTR-TOFMS體驗。

Ionicon一直致力于不斷開發(fā)各種功能附件,滿足用戶多樣化的科研需求。

SRI:擴(kuò)展試劑離子源NO+,O2+和NH4+擴(kuò)展VOCs的檢測范圍

FastGC:快速氣相色譜,區(qū)分同分異構(gòu)體

AutoSampler:固體/液體散發(fā)的VOCs檢測,多可達(dá)270樣品位的全自動分析

Multiplexing:多路進(jìn)樣,全自動分析

CHARON:氣溶膠中的化學(xué)成分在線分析,由此PTR同時具有氣相與顆粒相VOCs分析

LCU:液態(tài)校準(zhǔn),及液體中的VOCs檢測

BET:呼吸氣VOCs分析,環(huán)境與健康

CustomBuilt:根據(jù)您的需要,基于PTR-MS的解決方案

這所有的一切都是建立在Ionicon30年的PTR-MS經(jīng)驗,超過400臺的PTR安裝使用;不斷的技術(shù)革新與進(jìn)步,為用戶提供更合適的儀器;確保用戶能從“投資"中得到回報和成果。

性能好的PTR-TOFMS X2:ION-BOOSTER離子漏斗和六極桿離子導(dǎo)流ION-GUIDE

VOCs連續(xù)實時定量分析

無需樣品制備,直接空氣進(jìn)樣

PTR超級軟離子化技術(shù),避免分子碎裂

TRU-E/N™離子源,H3O+,NH4+,NO+,O2+

響應(yīng)時間小于100毫秒

簡單易用、穩(wěn)定可靠的在線VOCs質(zhì)譜儀


 飛行時間二次離子質(zhì)譜原理主要包括以下幾個步驟:  
1、次級離子產(chǎn)生:首先,將樣品放置在高真空的分析腔中。通過聚焦的初級離子束(通常為高能的質(zhì)子、氘或重氮離子)轟擊樣品表面,使樣品表面的原子和分子發(fā)生碰撞和激發(fā)。在這個過程中,部分原子和分子從樣品表面逸出,形成帶有正電或負(fù)電荷的次級離子。  
2、次級離子加速:次級離子在分析腔中被均勻的靜電場加速,使其獲得一定的動能。加速后的次級離子具有與其質(zhì)量和電荷成正比的速度。  
3、飛行時間測量:次級離子在分析腔中沿直線飛行,最終擊中位于一定距離處的探測器。由于次級離子的速度與其質(zhì)量和電荷成正比,不同質(zhì)量的離子在飛行過程中具有不同的飛行時間。通過測量次級離子從加速區(qū)到探測器的飛行時間,可以計算出它們的質(zhì)量和電荷比(m/z)。  
4、質(zhì)譜圖譜繪制:根據(jù)次級離子的飛行時間,將其按照質(zhì)量和電荷比(m/z)分布在質(zhì)譜圖上。質(zhì)譜圖中的每一個峰值代表了一個特定的次級離子,其強(qiáng)度與該離子在樣品表面的濃度成正比。  
5、數(shù)據(jù)處理與分析:通過對質(zhì)譜圖的解析,可以獲得樣品表面的化學(xué)組成信息。同時,通過對初級離子束的掃描和探測器信號的同步采集,可以實現(xiàn)對樣品表面的空間分辨成像,從而揭示材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和組分分布。
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